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掃描電鏡中的電子探針和能量色散分析

掃描電鏡（SEM）中的電子探針和能量色散分析（EDS）是用于獲取材料樣品化學成分和表面拓撲信息的重要技術。

在掃描電鏡中，電子束與樣品交互可能會導致輻射損傷，特別是對于生物樣品或熱敏感材料。

在掃描電鏡中，圖像是通過電子束與樣品交互并產(chǎn)生的。

掃描電鏡中的電子束輻射損傷是指樣品在電子束照射下受到損害的現(xiàn)象。

掃描電鏡的樣品舞臺和運動控制是非常重要的組成部分，用于定位、移動和旋轉(zhuǎn)樣品，以便進行觀察和分析。

掃描電鏡的分辨率非常高，通常能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級別的分辨率。

掃描電鏡通?？梢杂糜讷@得表面拓撲信息。SEM是一種高分辨率顯微鏡，廣泛用于觀察和表征材料的表面形貌、紋理和拓撲結(jié)構。

許多掃描電鏡都配備了可旋轉(zhuǎn)和傾斜的樣品臺。這些功能對于樣品的觀察和分析非常有用，因為它們允許在不同方向上查看樣品表面，并以不同的角度觀察樣品的微觀結(jié)構。