榮膺殊榮！澤攸科技通過首批安徽省企業(yè)研發(fā)中心認定

10月8日，安徽省科學技術廳發(fā)布了《關于首批安徽省企業(yè)研發(fā)中心擬認定名單的公示》，本次全省共有355家企業(yè)經遴選推薦審核后通過安徽省企業(yè)研發(fā)中心的評定。

EDS（能譜分析）在掃描電鏡中的作用

EDS（能譜分析）是一種在掃描電鏡中常用的分析技術，它的主要作用是通過檢測樣品產生的X射線來進行元素分析。

掃描電鏡中的低真空模式是一種操作模式，通常用于特定樣品或情況下，具有一些特定的作用和優(yōu)勢：

掃描電鏡在材料疲勞和斷裂分析中發(fā)揮了關鍵作用。

在掃描電鏡（SEM）中實現高分辨率的斷層和晶體缺陷檢測通常需要使用一些技術和儀器。

9月22日~24日，由中科院物理所表面物理國家實驗室、澤攸科技、松山湖材料實驗室聯合舉辦的“2023原位電鏡技術與應用研討會暨澤攸科技用戶交流會”在廣東惠州成功舉辦。

掃描電鏡中的電子束與樣品相互作用并產生圖像的過程涉及到多種物理和電子學原理。

掃描電鏡中的冷陰極和熱陰極是產生電子束的兩種不同方式，它們之間有以下主要區(qū)別：