掃描電鏡如何對(duì)焦

掃描電鏡（SEM）對(duì)焦是調(diào)整掃描電鏡系統(tǒng)以獲得清晰圖像的過(guò)程。通常，SEM系統(tǒng)具有自動(dòng)對(duì)焦功能，但也可以手動(dòng)對(duì)焦。

澤攸科技邀您共赴2024慕尼黑上海電子生產(chǎn)設(shè)備展

2024年3月20-22日，慕尼黑上海電子生產(chǎn)設(shè)備展將在上海新國(guó)際博覽中心盛大舉行。

臺(tái)式掃描電鏡、原位SEM、原位TEM、臺(tái)階儀、二維材料轉(zhuǎn)移臺(tái)、納米位移臺(tái)、低溫探針臺(tái)、掃描隧道顯微鏡、化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)、光柵尺、壓電物鏡。

臺(tái)式掃描電鏡是一種便攜式、小型化的掃描電鏡，通常用于在實(shí)驗(yàn)室、教育機(jī)構(gòu)和工業(yè)領(lǐng)域進(jìn)行高分辨率的表面形貌觀察和微觀結(jié)構(gòu)分析。

臺(tái)式掃描電鏡適用于許多不同類(lèi)型的樣品，包括但不限于以下幾種：

臺(tái)式掃描電鏡通常采用多種不同的探測(cè)方式，以適應(yīng)不同的觀察和分析需求。

大多數(shù)臺(tái)式掃描電鏡的樣品臺(tái)都是可以調(diào)節(jié)的。樣品臺(tái)的調(diào)節(jié)功能可以允許用戶(hù)在掃描電鏡中放置不同尺寸和形狀的樣品，并且可以調(diào)整樣品在電子束下的位置、傾斜角度等參數(shù)，以獲得所需的觀察效果。

2024年3月14-16日，BTF2024上海國(guó)際新能源鋰電池技術(shù)展將在上海新國(guó)際博覽中心隆重舉行。