臺(tái)式掃描電鏡通常采用多種不同的探測(cè)方式，以適應(yīng)不同的觀察和分析需求。以下是常見的臺(tái)式掃描電鏡的探測(cè)方式：

二次電子像（SEI）：二次電子像是常見的掃描電鏡圖像類型之一。它們反映了樣品表面的拓?fù)湫蚊埠捅砻嫣卣?。二次電子像通常具有較高的表面分辨率和對(duì)比度。

反射電子像（REI）：反射電子像是由樣品表面反射的高能電子形成的。這種圖像對(duì)于觀察導(dǎo)電性較差的樣品（如生物樣品、聚合物等）很有用。

透射電子像（TEI）：透射電子像是由透過(guò)薄樣品的電子形成的。這種圖像適用于觀察材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和成分。

背散射電子像（BSEI）：背散射電子像是由樣品中的背散射電子形成的。這種圖像對(duì)于觀察材料的成分分布和密度變化很有用。

能譜分析（EDS）：能譜分析是一種通過(guò)探測(cè)樣品中的X射線來(lái)確定其化學(xué)成分的方法。在掃描電鏡中，常使用能譜儀進(jìn)行能譜分析，以獲取樣品的元素分布和組成信息。

電子衍射：電子衍射是一種通過(guò)測(cè)量樣品衍射圖樣來(lái)確定其晶體結(jié)構(gòu)的方法。在掃描電鏡中，可以利用電子衍射技術(shù)來(lái)研究材料的晶體學(xué)性質(zhì)。

顯微X射線熒光（Micro-XRF）：顯微X射線熒光技術(shù)可以用于獲取樣品表面的元素分布和含量信息。在掃描電鏡中，通常結(jié)合X射線熒光探測(cè)器進(jìn)行顯微X射線熒光分析。

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