在掃描電鏡（SEM）觀察中，如果圖像出現(xiàn)漂移、跳動或位置不穩(wěn)定，可能是由于樣品偏移或不穩(wěn)定造成的。以下是問題原因分析和避免建議：

一、為什么樣品偏移會導(dǎo)致圖像漂移？

掃描電鏡的成像是通過電子束在樣品表面逐點掃描得到的。若樣品在成像過程中發(fā)生輕微移動或震動，會直接導(dǎo)致圖像模糊、重影、條紋或漂移。常見原因包括：

樣品未固定牢靠；

樣品臺未鎖緊；

真空泵運行或室內(nèi)振動引起微小機械擾動；

樣品因電子束照射發(fā)生熱膨脹或形變；

樣品裝夾不平整或傾斜。

二、如何避免樣品偏移導(dǎo)致圖像漂移？

1. 固定樣品牢固

使用導(dǎo)電碳膠、碳帶或銀膠將樣品牢牢粘貼在樣品臺上；

盡量將樣品貼平、貼緊，避免在傾斜角度大或邊緣懸空處裝夾；

粘貼時注意樣品重心，避免不平衡造成偏轉(zhuǎn)。

2. 檢查并鎖緊樣品臺

安裝樣品后，確保樣品臺各軸完全鎖定，特別是傾斜和旋轉(zhuǎn)角；

有些 SEM 樣品臺有微動或步進結(jié)構(gòu)，確保沒有“游隙”。

3. 降低室內(nèi)振動干擾

避免在樣品室附近走動或敲擊；

確保 SEM 安裝在減震平臺或穩(wěn)定地面上；

避免靠近空調(diào)風口或電機設(shè)備。

4. 等樣品“穩(wěn)定”后再成像

樣品剛進入高真空時會因氣壓、溫度變化略有應(yīng)力；

等待 5–15 分鐘再進行高倍率成像，避免初期不穩(wěn)定。

5. 避免樣品因電子束照射變形

對熱敏感樣品（如高分子、生物、納米膜等）應(yīng)使用低電壓、低束流；

減少單點長時間曝光，避免熱積累。

6. 使用低倍率定位后再逐步放大

先在低倍率下完成定位、對焦、亮度調(diào)整；

再逐步放大觀察，避免在高倍率下因樣品微動而失去目標區(qū)域。

7. 避免充電和電荷積累

非導(dǎo)電樣品帶電也會導(dǎo)致圖像漂移（電荷引力擾動電子束）；

可通過噴金、低壓模式或?qū)щ娔z接地等方法處理。