掃描電鏡圖像邊緣模糊是因為調(diào)焦沒調(diào)好嗎?
日期:2025-04-11
掃描電鏡(SEM)圖像邊緣模糊的確可能與調(diào)焦不當有關,但這只是眾多可能原因之一。下面是一些常見導致圖像邊緣模糊的原因和對應解決方法:
1. 調(diào)焦未精準對齊整個視野
原因:SEM 的焦點通常只對準了中心區(qū)域,邊緣離焦;
應對:
手動或自動對焦后,移動樣品位置對不同區(qū)域重新微調(diào)焦距;
使用“Z 軸調(diào)節(jié)”或“工作距離”微調(diào),確保整個圖像平面都在焦點上。
2. 樣品表面不平或傾斜
原因:樣品傾斜,導致邊緣區(qū)域與電子束焦點不在同一平面;
應對:
使用傾斜臺調(diào)整樣品角度;
或更換為表面更平整的樣品。
3. 工作距離設置不當
原因:不同工作距離對應不同的景深,如果設置不合適,邊緣會模糊;
應對:
縮短工作距離以提高分辨率;
或根據(jù)樣品形狀調(diào)整最適景深。
4. 放大倍率過高但聚焦未同步優(yōu)化
原因:高倍率時圖像更敏感,輕微離焦也會導致模糊;
應對:
增加放大倍率時,重新調(diào)焦;
注意使用適當?shù)膾呙杷俣缺苊庠肼暩蓴_焦點。
5. 電子束發(fā)散或透鏡不穩(wěn)定
原因:鏡頭系統(tǒng)未充分穩(wěn)定或電磁干擾;
應對:
確保電子束穩(wěn)定運行;
盡量減少外部電磁干擾源,如移動手機、電風扇、電焊機等。
6. 樣品表面帶電
原因:非導電樣品未進行金屬鍍膜,邊緣區(qū)域電荷積累;
應對:
對樣品進行導電鍍膜(如金、鉑、碳);
或在低真空模式下觀察以減少充電效應。
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作者:澤攸科技