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掃描電鏡如何避免或減少樣品受到電子束的損傷？

在掃描電鏡（SEM）中，為了避免或減少樣品受到電子束的損傷，可以采取以下措施：

對掃描電鏡（SEM）圖像進行后處理和增強可以改善圖像的質(zhì)量、對比度和清晰度，以更好地展示樣品的細節(jié)和特征。

在掃描電鏡（SEM）中，電子束與樣品之間存在多種相互作用。這些相互作用包括：

掃描電鏡圖像中的對比度和亮度可以進行調(diào)整。

掃描電鏡的工作條件和操作步驟如下：

調(diào)節(jié)和優(yōu)化掃描電鏡（SEM）參數(shù)是確保獲得高質(zhì)量SEM圖像的關(guān)鍵步驟。

對于掃描電鏡（SEM）觀察，通常需要對樣品進行一些特殊處理和制備步驟，以確保樣品的可觀察性和SEM圖像的質(zhì)量。

掃描電鏡（SEM）適用于廣泛的樣品類型，包括但不限于以下幾個領(lǐng)域：