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九月,與澤攸科技相約在悉尼

International Microscopy Congress (IMC) 被譽(yù)為顯微鏡領(lǐng)域的奧林匹克,每四年舉辦一次。會議匯聚了一批 透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡(含掃描隧道顯微鏡,原子力顯微

MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15

原位TEM黑科技:MEMS-STM-TEM一體化樣品桿

MEMS-STM-TEM一體化樣品桿,基于STM納米操縱技術(shù)的原位解決方案。這類方案利用集成于原位樣品桿頭部的掃描探針單元,結(jié)合I-V測量、光學(xué)-光電測量、低溫或者力學(xué)測量單元,在TEM中實現(xiàn)原位亞

MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15

2018年澤攸科技參展計劃安排

2018年澤攸科技已確認(rèn)參加的展會安排如下,歡迎各位老師前來交流指導(dǎo): 5月10日-5月13日: 2018年華東地區(qū)(電子)顯微學(xué)學(xué)術(shù)交流會,地點:福州市 鼓樓區(qū) 西湖賓館。 5月10日-5月12日:

MORE INFO → 公司新聞 2018-04-25