掃描電子顯微鏡的原理及應(yīng)用
掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)是一種利用高速電子掃描來研究材料表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)的儀器。相比于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡,SEM具有更高的分辨率和深度,可以觀察到更小尺度的微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。SEM在材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、電子學(xué)等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-04-24