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掃描電鏡的深度焦點是什么？如何調(diào)節(jié)和優(yōu)化？

掃描電鏡的深度焦點是指在掃描電鏡成像過程中，樣品表面的不同區(qū)域在垂直方向上仍能獲得較好清晰度的范圍。

掃描電子顯微鏡（SEM）的加速電壓對圖像分辨率有重要影響。

掃描電子顯微鏡（SEM）的能譜分析功能是通過能譜儀（EDS）或能量色散X射線光譜儀（EDX）實現(xiàn)的。

掃描電子顯微鏡的掃描速度是指電子束在樣品表面掃描的速度。

掃描電子顯微鏡（SEM）的探針電流是指通過樣品表面的電子束電流。

傳統(tǒng)的掃描電鏡（SEM）對于非導(dǎo)電樣品確實存在困難，因為非導(dǎo)電樣品在高真空環(huán)境下容易產(chǎn)生電荷積聚，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降。

掃描電鏡（SEM）圖像的分析處理方法可以幫助提取和解釋有關(guān)樣品的信息。

在掃描電鏡（SEM）中，放大和聚焦是獲取清晰圖像的關(guān)鍵步驟。