掃描電鏡中的樣品表面充電問題及其解決方法
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品表面充電是一個(gè)常見的問題。當(dāng)樣品處于高真空環(huán)境下，并且受到來自電子束的照射時(shí)，可能會(huì)發(fā)生表面電子的發(fā)射和重新組合，導(dǎo)致樣品表面帶電。這會(huì)導(dǎo)致圖像失真、信號(hào)衰減以及可能損害樣品。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-25
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品表面充電是一個(gè)常見的問題。當(dāng)樣品處于高真空環(huán)境下，并且受到來自電子束的照射時(shí)，可能會(huì)發(fā)生表面電子的發(fā)射和重新組合，導(dǎo)致樣品表面帶電。這會(huì)導(dǎo)致圖像失真、信號(hào)衰減以及可能損害樣品。
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臺(tái)式掃描電鏡（SEM）的樣品轉(zhuǎn)臺(tái)支持的角度范圍可以因不同的型號(hào)和廠家而異，但通常在一定角度范圍內(nèi)具有一定的轉(zhuǎn)動(dòng)能力。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-20
臺(tái)式掃描電鏡（SEM）的工作模式是連續(xù)波模式，而不是脈沖波模式。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-20
傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡通常不能用于觀察活細(xì)胞。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-19
掃描電子顯微鏡圖像可以通過數(shù)字圖像處理和增強(qiáng)來改善圖像質(zhì)量，增加細(xì)節(jié)和對(duì)比度，并提供更多有關(guān)樣本的信息。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-19
在掃描電子顯微鏡中，電子束照射對(duì)樣本可能造成多種損傷，特別是在高能量電子束下。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-19
校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡以獲取準(zhǔn)確的圖像尺寸是非常重要的，因?yàn)樗軌蛱峁┯嘘P(guān)樣本的尺寸和形狀的準(zhǔn)確信息。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-19
掃描電子顯微鏡可以用于觀察生物樣本。SEM是一種能夠提供高分辨率表面圖像的顯微鏡，它使用電子束來掃描樣本表面，從而產(chǎn)生詳細(xì)的圖像。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-19