在掃描電子顯微鏡（SEM）中，次級(jí)電子圖像是通過探測(cè)樣品表面產(chǎn)生的次級(jí)電子而獲得的圖像。次級(jí)電子是在樣品表面被激發(fā)并從表面釋放出來的電子。這些電子的能量通常比原始的初級(jí)電子（用于激發(fā)樣品表面的電子束）較低。

次級(jí)電子圖像通常用于觀察樣品表面的形貌、輪廓和微觀結(jié)構(gòu)。由于次級(jí)電子主要來自樣品表面的外層，因此這種圖像提供了關(guān)于樣品表面的表征。次級(jí)電子圖像的對(duì)比度通常與樣品的表面拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)相關(guān)，使其成為表面形貌分析的有力工具。

通過調(diào)整SEM的參數(shù)，例如電子束的能量和探測(cè)器的設(shè)置，可以優(yōu)化次級(jí)電子圖像的對(duì)比度和分辨率。次級(jí)電子圖像在材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用，用于研究微小結(jié)構(gòu)和表面形貌。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

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