避免或減輕掃描電鏡樣品制備過程中的偽跡和偽影是確保獲得高質(zhì)量顯微圖像的關(guān)鍵步驟。以下是一些建議：

樣品制備技術(shù)： 選擇適當(dāng)?shù)臉悠分苽浼夹g(shù)，確保樣品的制備過程不會(huì)引入額外的偽跡。這可能涉及到使用適當(dāng)?shù)墓潭▌?、脫水和清理步驟。

盡量避免表面污染： 確保樣品表面干凈，避免灰塵、油脂或其他雜質(zhì)的附著。使用清潔工具和實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，避免手觸摸樣品表面。

避免靜電吸附： 靜電吸附可能導(dǎo)致樣品表面附著微小的顆粒或灰塵，產(chǎn)生偽跡。使用抗靜電處理方法，如放電設(shè)備或抗靜電涂層，以減輕這種效應(yīng)。

適當(dāng)?shù)慕饘偻繉樱?對(duì)于非導(dǎo)電樣品，可以考慮使用薄的導(dǎo)電金屬層，如金或鉑，以提高導(dǎo)電性并減輕充電效應(yīng)。

避免過度處理： 盡量避免過度處理樣品，例如過度固定或過度脫水，這可能導(dǎo)致偽影的產(chǎn)生。

選擇適當(dāng)?shù)娘@微鏡參數(shù)： 優(yōu)化掃描電鏡的參數(shù)，包括加速電壓、探測(cè)器類型和放大倍數(shù)，以減少偽影的產(chǎn)生。

定期清理儀器： 定期清理掃描電鏡的樣品舞臺(tái)、探測(cè)器和其他部件，以確保儀器的整潔，并減少可能導(dǎo)致偽跡的因素。

合理的實(shí)驗(yàn)條件： 在適當(dāng)?shù)臏囟群蜐穸葪l件下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，以減少靜電效應(yīng)和其他環(huán)境因素對(duì)樣品的影響。

標(biāo)準(zhǔn)樣品： 使用標(biāo)準(zhǔn)樣品來(lái)驗(yàn)證和調(diào)整儀器參數(shù)，以確保其性能和分辨率。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的如何避免或減輕掃描電鏡樣品制備過程中的偽跡和偽影。更多樣品桿產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢15756003283(微信同號(hào))。