掃描電鏡（SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，主要用于觀察材料表面的形貌、形態(tài)和微觀結(jié)構(gòu)。SEM適用于觀察各種類型的樣品，特別是固體和導(dǎo)電樣品。以下是一些適合用掃描電鏡觀察的樣品類型：

金屬樣品：金屬樣品通常是SEM的常見樣品，因為它們是導(dǎo)電的，能夠產(chǎn)生清晰的圖像。SEM可以用于觀察金屬表面的微觀結(jié)構(gòu)、晶體形貌以及顆粒分布等。

陶瓷和合金樣品：類似于金屬樣品，陶瓷和合金樣品也通常是導(dǎo)電的，因此適合用SEM觀察其表面和微觀結(jié)構(gòu)。

半導(dǎo)體樣品：半導(dǎo)體樣品通常是導(dǎo)電的，可以通過SEM來研究其微觀結(jié)構(gòu)和表面特性，這對于電子器件的研究和制造非常重要。

礦物樣品：礦物樣品在SEM中也可以得到很好的表面形貌圖像，SEM對地質(zhì)學(xué)研究和材料分析有很大幫助。

生物樣品：雖然傳統(tǒng)SEM對生物樣品要求比較嚴(yán)格（需要導(dǎo)電性或金屬涂層），但低真空SEM或冷凍技術(shù)可以使一些生物樣品在SEM中觀察。

納米材料：SEM對觀察納米級材料的形貌和結(jié)構(gòu)也非常有用，尤其在納米材料研究領(lǐng)域。

值得注意的是，SEM觀察樣品的準(zhǔn)備和處理是關(guān)鍵的一步，樣品須處理得干凈、光滑，并且可能需要進(jìn)行金屬涂層等處理來增加導(dǎo)電性。對于非導(dǎo)電或敏感樣品，還可以考慮使用環(huán)境掃描電鏡（ESEM）或低真空SEM等技術(shù)來觀察。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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