掃描電子顯微鏡（SEM）使用不同類型的探測(cè)器來(lái)測(cè)量和探測(cè)樣品表面產(chǎn)生的信號(hào)。每種探測(cè)器具有不同的性能特點(diǎn)，適用于不同的應(yīng)用和需求。以下是一些常見的SEM探測(cè)器類型和性能特點(diǎn)：

后向散射電子探測(cè)器（BSE）：

特點(diǎn)：測(cè)量和檢測(cè)從樣品表面散射的高能電子。BSE信號(hào)與樣品的原子序數(shù)有關(guān)，可提供對(duì)樣品組成和形貌的信息。

優(yōu)點(diǎn)：較高的信號(hào)強(qiáng)度，對(duì)不導(dǎo)電樣品有較好的靈敏度，可提供高對(duì)比度的圖像。

限制：BSE信號(hào)與表面拓?fù)潢P(guān)系密切相關(guān)，可能受到拓?fù)湫?yīng)的影響。

后向散射探測(cè)器（BSE2）：

特點(diǎn)：類似于BSE，但BSE2探測(cè)器使用多個(gè)探測(cè)器接收不同能量范圍的BSE信號(hào)，提供更豐富的信號(hào)信息。

優(yōu)點(diǎn)：提供更廣泛的信號(hào)能量范圍，可用于增強(qiáng)對(duì)比度和分析樣品成分。

二次電子探測(cè)器（SE）：

特點(diǎn)：測(cè)量和檢測(cè)從樣品表面發(fā)射的次級(jí)電子。SE信號(hào)與樣品的表面拓?fù)浜蛯?dǎo)電性有關(guān)，可提供表面形貌和細(xì)節(jié)信息。

優(yōu)點(diǎn)：高分辨率的表面拓?fù)湫畔?，?duì)導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品均可使用。

限制：信號(hào)強(qiáng)度較低，不適用于化學(xué)成分分析。

透射電子探測(cè)器（STEM）：

特點(diǎn)：透射電子探測(cè)器用于透射電子顯微鏡（TEM），可測(cè)量和檢測(cè)從樣品透射的電子。STEM信號(hào)可提供樣品的原子尺度結(jié)構(gòu)和成分信息。

優(yōu)點(diǎn)：高分辨率的原子級(jí)成像和分析，能夠獲得元素的能量色散譜（EDS）。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的探測(cè)器類型和性能。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢15756003283(微信同號(hào))。