臺(tái)式掃描電鏡（SEM）具有多種成像模式，以下是其中常見(jiàn)的幾種：

二次電子成像（SEI）：二次電子成像是常用的臺(tái)式掃描電鏡成像模式。它利用從樣品表面發(fā)射的二次電子來(lái)形成圖像。二次電子對(duì)樣品表面的拓?fù)浜徒M成非常敏感，能夠提供樣品的表面形貌和細(xì)節(jié)信息。

反射電子成像（BEI）：反射電子成像使用從樣品表面反射的電子來(lái)形成圖像。與二次電子不同，反射電子可以提供更深入的樣品信息，如晶體結(jié)構(gòu)、材料成分和表面反射率。

透射電子成像（TEI）：透射電子成像模式允許電子束穿透樣品，形成透射電子圖像。透射電子成像常用于研究材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和組織，尤其在材料科學(xué)和生物學(xué)領(lǐng)域中應(yīng)用廣泛。

背散射電子成像（BSEI）：背散射電子成像利用從樣品背面散射回來(lái)的電子來(lái)形成圖像。背散射電子對(duì)樣品的原子序數(shù)和密度非常敏感，因此可以提供有關(guān)樣品組分和晶體結(jié)構(gòu)的信息。

偏置電子成像（SEI+BSEI）：偏置電子成像模式結(jié)合了二次電子和背散射電子成像。通過(guò)同時(shí)獲取二次電子和背散射電子信號(hào)，可以提供更豐富的樣品信息，包括表面形貌和組成。

這些成像模式在臺(tái)式掃描電鏡中可以根據(jù)需要進(jìn)行選擇和調(diào)整。每種模式都有其獨(dú)特的應(yīng)用和優(yōu)勢(shì)，可以用于不同類型的樣品研究和分析。根據(jù)研究目的，選擇合適的成像模式可以獲得更詳細(xì)的樣品信息。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編分享的臺(tái)式掃描電鏡的成像模式。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢15756003283(微信同號(hào))。