掃描電鏡和透射電鏡是兩種常用的電子顯微鏡，它們在工作原理、成像模式、樣品制備和應(yīng)用領(lǐng)域等方面存在一些不同。

工作原理：掃描電鏡通過聚焦電子束掃描樣品表面，從而獲得樣品表面的形貌信息。透射電鏡則通過聚焦電子束穿過樣品薄片，獲得樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息。

成像模式：掃描電鏡成像模式包括二次電子成像和反射電子成像，能夠獲得樣品表面形貌、組成和結(jié)構(gòu)信息。透射電鏡成像模式包括透射成像和衍射成像，能夠獲得樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息。

樣品制備：掃描電鏡的樣品制備通常是將樣品表面進(jìn)行金屬鍍膜或者碳膜處理，以增加樣品導(dǎo)電性；透射電鏡的樣品制備需要將樣品切成非常薄的薄片，通常在納米或亞納米級別。

應(yīng)用領(lǐng)域：掃描電鏡主要應(yīng)用于材料學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域，例如納米材料形貌、微觀結(jié)構(gòu)、表面形貌、病毒等。透射電鏡則主要應(yīng)用于材料學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域，例如金屬晶體結(jié)構(gòu)、電子衍射、細(xì)胞超微結(jié)構(gòu)等。

ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)

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