原位掃描電鏡的技術(shù)特點(diǎn)和產(chǎn)品功能介紹
日期:2022-07-25
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原位掃描電鏡的技術(shù)特點(diǎn):
基于性能特點(diǎn),我們將體視學(xué)顯微鏡觀測(cè)技術(shù)與原位拉伸裝置結(jié)合,研究了固體推進(jìn)劑的絕熱層與推進(jìn)劑藥柱在加載作用下的細(xì)觀損傷破壞過程。由于體視學(xué)顯微鏡觀測(cè)空間不受限制,可以充分?jǐn)U展加載臺(tái),實(shí)現(xiàn)對(duì)延伸率較大樣品的觀測(cè);并可通過對(duì)加載臺(tái)的溫度控制,實(shí)現(xiàn)對(duì)材料在高、低溫環(huán)境下?lián)p傷力學(xué)性能規(guī)律的研究;此外,體視學(xué)顯微鏡原位加載裝置還具有樣品不需噴金、成本低等優(yōu)點(diǎn)。
由于種種問題的存在,限制了SEM原位加載實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的應(yīng)用范圍,對(duì)材料力學(xué)性能研究的貢獻(xiàn)也有限。原位加載系統(tǒng)CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有引入時(shí)間維度,實(shí)現(xiàn)4DCT成像。
原位掃描電鏡的產(chǎn)品功能介紹:
掃描電鏡原位拉伸試驗(yàn)臺(tái)是一種動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機(jī)制的手段,在材料科學(xué)研究中發(fā)揮了重要作用。在掃描電鏡上進(jìn)行材料試驗(yàn),可以充分利用掃描電鏡的強(qiáng)大的景深、高空間分辨和分析功能,在微觀層面上對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行動(dòng)態(tài)研究。
微型拉伸臺(tái)可以為很多材料做拉伸測(cè)試,如金屬材料,高分子材料,陶瓷材料等。通過掃描電鏡對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的形態(tài)變化進(jìn)行原位成像,從而深入理解形態(tài)變化的原因并對(duì)變化時(shí)刻進(jìn)行成像。結(jié)合對(duì)動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)的信息可以克服對(duì)傳統(tǒng)的應(yīng)力/應(yīng)變數(shù)據(jù)解釋的不確定因素。
原位掃描電鏡的應(yīng)用:
靜態(tài)或動(dòng)態(tài)觀察可控的機(jī)械負(fù)荷下表面的變化,裂紋擴(kuò)展,分層,以及形成滑移面等現(xiàn)象。
可以應(yīng)用于金屬,陶瓷,玻璃,陶瓷塊體材料或薄膜,電鍍層,釬焊或焊接接頭,礦物,木材,有機(jī)材料等。
該拉伸臺(tái)可與絕大部分掃描電鏡配合使用。加配4個(gè)支撐角后,還可與光學(xué)顯微鏡、AFM、激光或拉曼顯微鏡聯(lián)用。
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