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掃描電鏡對(duì)支撐基底的要求

支撐基底是掃描電鏡?（SEM）樣品的重要組成部分，對(duì)SEM成像效果具有重要影響。以下是SEM對(duì)支撐基底的要求：

掃描電鏡?（SEM）通常使用硅片作為樣品支撐基底，因?yàn)楣杵幸韵聨讉€(gè)優(yōu)點(diǎn)：

掃描電鏡（SEM）的高真空環(huán)境會(huì)導(dǎo)致液體樣品揮發(fā)和損壞，因此防止液體樣品揮發(fā)是很重要的。

掃描電鏡（SEM）通常用于表面分析和成像，通常需要對(duì)固體樣品進(jìn)行高真空處理，而對(duì)液體樣品進(jìn)行掃描電鏡分析前，需要做一些處理，下面是掃描電鏡對(duì)液體樣品的處理步驟。

掃描電鏡噴金時(shí)間通常取決于樣品類型和SEM系統(tǒng)的要求。通常，需要噴涂足夠的金屬以覆蓋樣品表面，并且需要噴涂足夠長(zhǎng)的時(shí)間以確保金屬涂層足夠厚。

掃描電鏡（SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，可以通過(guò)掃描樣品表面并測(cè)量所反射的電子來(lái)生成高質(zhì)量的圖像。

臺(tái)式掃描電鏡?是一種非常強(qiáng)大的顯微鏡，具有以下主要性能特點(diǎn)：

掃描電鏡（SEM）是一種能夠觀察樣品表面形態(tài)和微觀結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡，其制樣過(guò)程對(duì)于觀察結(jié)果的準(zhǔn)確性和清晰度至關(guān)重要。