新聞資訊開(kāi)拓創(chuàng)新，高端品質(zhì)，真摯服務(wù)

當(dāng)前位置：主頁(yè) > 新聞資訊

SEM掃描電鏡的測(cè)量范圍

SEM掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面并捕捉其反射、散射或二次電子發(fā)射等信號(hào)進(jìn)行成像的高分辨率顯微技術(shù)。

掃描電鏡是一種常用的電子顯微鏡，它通過(guò)掃描電子束來(lái)檢測(cè)樣品的表面結(jié)構(gòu)和形貌。

掃描電鏡能譜儀是用來(lái)對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行分析的一種儀器，通常配合掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡及掃描透射電子顯微鏡使用。其工作模式一般為以下幾個(gè)方面。

樣品表面經(jīng)常附有灰塵、硅酸鹽或油污，尤其是線切割或敲碎的樣品，粘有大量污染物和碎片，不宜直接觀察。常用的清潔樣品的方法如下 :

EM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)兼顧樣品形貌表征及元素分析功能,體積小巧,操作簡(jiǎn)便,安裝無(wú)需特殊環(huán)境,只需找一張桌子,供電即可工作。

SEM掃描電鏡通過(guò)電子束掃描樣品表面獲取樣品信息。

掃描電鏡與透射電鏡都是用來(lái)獲取樣品信息的設(shè)備，那么二者有何區(qū)別呢？

掃描電子顯微鏡是一種多功能的儀器，可以從樣品表面獲得樣品信息，掃描電鏡可進(jìn)行以下分析：